Optimization of SWIR Image Capture and Processing for Defect Detection in Photovoltaic Panels

This work introduces a methodology for capturing and processing Short-Wave Infrared (SWIR) images focused on detecting structural defects in photovoltaic panels. Indium Gallium Arsenide (InGaAs) sensors were used in combination with perspective correction, background subtraction, and contrast enhancement through the CLAHE algorithm. Experimental testing showed that adjusting capture parameters appropriately, along with efficient preprocessing, allows precise identification of defects such as cracks, inactive zones, and discontinuities in collector bars. This approach supports preventive maintenance strategies and helps extend the operational lifespan of photovoltaic installations.Este trabajo desarrolla una metodología para la captura y procesamiento de imágenes en el rango de infrarrojo de onda corta (SWIR), orientada a la detección de defectos en paneles fotovoltaicos. Se emplearon sensores de Indio Galio Arseniuro (InGaAs) junto con técnicas de corrección de perspectiva, sustracción de fondo y mejora de contraste mediante el algoritmo CLAHE. Las pruebas experimentales confirmaron que una configuración adecuada de los parámetros de captura, combinada con un procesamiento eficiente, permite identificar con precisión defectos estructurales como grietas, zonas inactivas y discontinuidades en las barras colectoras. La metodología planteada puede aplicarse en programas de mantenimiento preventivo, contribuyendo a extender la vida útil de las instalaciones fotovoltaicas.