Optimization of SWIR Image Capture and Processing for Defect Detection inPhotovoltaic Panels

Este trabajo desarrolla una metodología para la captura y procesamiento de imágenes en el rango de infrarrojo de onda corta (SWIR), orientada a la detección de defectos en paneles fotovoltaicos. Se emplearon sensores de Indio Galio Arseniuro (InGaAs) junto con técnicas de corrección de perspectiva, sustracción de fondo y mejora de contraste mediante el algoritmo CLAHE. Las pruebas experimentales confirmaron que una configuración adecuada de los parámetros de captura, combinada con un procesamiento eficiente, permite identificar con precisión defectos estructurales como grietas, zonas inactivas y discontinuidades en las barras colectoras. La metodología planteada puede aplicarse en programas de mantenimiento preventivo, contribuyendo a extender la vida útil de las instalaciones fotovoltaicas.